Approach
正常画像の弱い拡張と擬似異常画像の生成を組み合わせ、正常変動と欠陥による変化を区別できる特徴表現を目指した距離学習を検討しています。
RESEARCH & ENGINEERING
Computer Vision / Anomaly Detection
画像認識・深層学習を専門とする大学院修士1年生です。産業製品の外観検査を対象に、さまざまな製品へ適用でき、微小な欠陥も捉えられる特徴抽出器の事前学習を研究しています。
外観検査で求められるのは、正常な見た目のばらつきには頑健でありながら、傷・欠けなどの微小な違いには敏感な特徴表現です。一方、一般的な画像分類の事前学習では、この能力が必ずしも十分に獲得されません。このギャップに着目し、特徴抽出器の学習方法の改良に取り組んでいます。
正常画像の弱い拡張と擬似異常画像の生成を組み合わせ、正常変動と欠陥による変化を区別できる特徴表現を目指した距離学習を検討しています。
PyTorchでCNNを学習し、公開データセットMVTec ADを用いてPaDiM・PatchCoreなどの異常検知手法から性能を評価します。
画像認識・異常検知の研究に取り組み、画像センシングや画像処理に関する学会・研究会で発表してきました。
IAIP外観検査アルゴリズムコンテストでのリーダー経験や、共同研究における学生側の進捗管理・役割分担などを通じて、技術検討とチーム運営の双方に取り組んでいます。共同研究の技術的な詳細は掲載していません。